表（biǎo）麵光電壓譜與普通（tōng）的（de）透射或漫反射光譜不同，它是作用光譜，是利用調製光激（jī）發而產生光伏信號。因此，所檢測的（de）信號包括兩方麵信息：一個（gè）是常見的光（guāng）電壓強度（dù）譜，它正比於（yú）樣品的吸收光譜；另一個是相位（wèi）角譜。SPV 信號的（de）實質是對樣品施（shī）加在強度信號上的正弦調製光脈衝（chōng），將（jiāng）會導致一個相同頻率調製的，而且是正弦波的表麵電勢的（de）變化。影響表麵電勢值（zhí）的（de）是少數載流子（zǐ）平均擴散距離內的光生電子或空穴，即SPV在比少（shǎo）數載流（liú）子平均壽命更長的時間後才出現極值。因此，在入射光脈衝和SPV的極值之間有一（yī）個時間延遲，也即相位差。可以（yǐ）通過研究樣品的SPV 響應相位角來判斷固體材料的導電類型、表麵態得失（shī）電子（zǐ）性質和固體表麵的酸（suān）堿性質。

表麵光電壓檢測裝置主（zhǔ）要由光源、單色器、斬波器與鎖相放大器、光電壓池以及信號采集軟件構成，如（rú）圖12-9所示。一般采用氙燈作為光源，其在紫外及可見（jiàn）光譜範圍光強都比較強。氙燈發射的光經透鏡係（xì）統處理獲得平行出射光，並進入光柵單色儀。經由光柵單（dān）色儀可以獲得具（jù）有較高分辨率的單色光，並經過外部光路引入光電壓池。

光電壓池是光電轉換器件，它（tā）的結構對光電響應及信噪比有較大影響。為了獲得更（gèng）好的信噪比，必須采用較好的（de）電磁（cí）屏蔽。本實驗中（zhōng）采用銅質的屏蔽（bì）箱。光電壓池結構如圖12-10右圖所示，為三明治（ITO/樣品/ITO）構造。所用的ITO電極在（zài）300~330 nm有明顯地吸收。

    由於表麵（miàn）光電壓信號非常微弱，並且十分容易受到外界電磁信號幹擾，因此表麵光電壓通常基（jī）於鎖相放大器進行測量。利用斬波器對入射光信號進行調製，通過鎖相放大器獲得與斬波器具有相同頻率的疊加在較大噪音背景（jǐng）下的微弱光電壓（yā）信號。這一測試係統即使有用的信號被淹沒在噪聲信號裏麵（miàn），並且噪聲信號（hào）比有用的（de）信號（hào）大很多，隻要（yào）知道所采集信號的頻（pín）率值，就能準確地測量出這個信號的幅（fú）值。

除（chú）此外，電場誘導的（de）表（biǎo）麵光電壓譜（Electron-Field-Introduced SPS, EFISPS）是在SPS的基礎上，研究（jiū）在（zài）外電場作用（yòng）下納（nà）米粒子表麵光生電子和（hé）空穴的遷移及空間電荷層變化的一種作用光譜，也具有非常多的應用。