穩態熒光譜儀一般由激發光源、單色器、試樣池、光檢測器及讀數（shù）裝置等（děng）部件組成。熒光（guāng）光譜儀的光源主要有弧光燈、固（gù）態發（fā）光二極管光源以（yǐ）及激光光源。弧光燈通常具有較寬的連續（xù）輸出波長範圍，在穩態熒光光譜儀上的應用最多，通常對於分子熒光檢測以及光（guāng）致發光材料的檢測都具有較好的信號。但是對於熒光信號較弱的半導體固體材料，由於弧光燈光源（yuán）經單色器分光後，其光強較弱相應發（fā）射（shè）譜信號也較弱，這時很難探測到微（wēi）弱的熒光信號。但是利用（yòng）激（jī）光（guāng）光源（yuán）強度大，單色（sè）性（xìng）好的特點，可以大大提高熒光（guāng）測（cè）定的（de）靈敏度和檢測（cè）限，以激光（guāng）為光源的熒光檢測技（jì）術被稱（chēng）為激光誘導熒光譜（Laser-Induced Fluorescence Spectroscopy, LIF譜）。但是由於激光光源波長（zhǎng）單一，因此實際測試中需選取合（hé）適的激發波長進行相應的檢測。

在光催化及光伏材料研究中，對於光誘導（dǎo）電荷分離及其遷移過程的深入認識是一個非常關鍵的科學問題（tí）。通過研究半導體光催化材料的熒光衰減（jiǎn）動（dòng）力學信息，對於理解納米尺度電（diàn）荷及能量的傳輸過程都異常重要。通過時間分辨熒光光譜（Time-Resolved Fluorescence Spectroscopy）的測量（liàng）能夠直接獲得熒光（guāng）衰減曲線（熒（yíng）光強度－時間曲線），從而獲得瞬態相關的物理機（jī）製（zhì），如圖12-5所示。通過對於原始（shǐ）衰（shuāi）變數據的合理擬合，可以定性（xìng）判斷在光激發（fā）過程中特定的物理機製。

為了（le）獲得熒（yíng）光（guāng）壽（shòu）命（mìng），除了測量（liàng）熒光衰減曲線還必須測量儀器響應函數（shù）（即（jí）激（jī）發脈衝）。因為燈或激光脈衝的（de）時（shí）間寬度是（shì）有限的，這會（huì）使樣品本征的熒光反應產生畸變。在典型的實驗中，要測量（liàng）兩條曲線：儀器響（xiǎng）應函（hán）數和熒光衰減曲線（xiàn）。然後把儀器響應函數與模型函數（單指數函數或雙指數函數）的卷積與實（shí）驗衰減結果比較。通過這一迭代數值過（guò）程直到與實驗衰減（jiǎn）曲線一致。

圖12-5 實（shí）驗激光曲線，衰（shuāi）減曲線（點（diǎn）狀函（hán）數）和最佳數值擬合曲（qǔ）線。真正的（de）指數函數代表了衰減模（mó）型。